专利名称：使用了等离子体离子源的质量分析专利类型：发明专利
发明人：杉山尚树,大森美音子,中野和美申请号：CN201811531964.3申请日：20181214公开号：CN109975385A公开日：20190705
摘要：本发明涉及使用了等离子体离子源的质量分析，为了考虑质量分析装置的质量偏置效应而针对干扰元素的二价离子对由使用了离子体离子源的质量分析装置测定的分析元素的测定离子的光谱干扰进行修正，使用该干扰元素的同位素之中具有不同的奇数的质量数的两个同位素的二价离子的离子强度的测定值。在用于获取被应用本发明的修正方法的测定值的测定中，优选将该质量分析装置的质量分辨率设定为高于通常的分析时的值。
申请人：安捷伦科技有限公司
地址：美国加利福尼亚州
国籍：US
代理机构：北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人：张永玉
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